• sands金沙集团

      sands金沙集团半导体有限公司


      • sands金沙集团
      • 关于sands金沙集团
        • 公司简介
        • 旗下子公司
        • 开展历程
        • 荣誉资质
      • 产品服务
        • 激光微纳加工装备
        • 激光深加工装备
        • 综合光学3D测量装备
        • 光学非标 定制方案
      • 测量项目
        • 显微光学3D测量
        • 宏观光学3D测量
        • 综合3D振动测试
      • 新闻动态
        • 公司新闻
        • 行业动态
        • 企业党建
      • 招贤纳士
      • 联系我们
      • sands金沙集团
      • 关于sands金沙集团
      • 产品服务
      • 测量项目
      • 新闻动态
        • 公司新闻
        • 行业动态
        • 企业党建
      • 招贤纳士
      • 联系我们

      登录 | 注册

      400-8235-668

      EN

      CH

      400-8235-668

      新闻动态

      NEWS DYNAMIC

      • 公司新闻
      • 行业动态
      • 企业党建
      15
      2026
      -
      09
      电解铜箔 (Electrolytic Copper Foil...
      电解铜箔(Electrolytic Copper Foil)是覆铜板基材(CCL Substrate)的核心导电材料,其表面粗糙度直接决定铜箔与树脂的界面结合强度...
      电解铜箔 (Electrolytic Copper Foil)表面粗糙度超标,白光干涉仪排查覆铜板基材 (CCL Substrate) 制备异常
      14
      2026
      -
      09
      白光干涉仪技术难点:高精度易达成大视场高分辨率难以兼顾
      白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI)借助短相干干涉原理,在小视场条件下实现亚纳米级垂直测量精度已较为成熟,可稳定输出 Ra...
      白光干涉仪技术难点:高精度易达成大视场高分辨率难以兼顾
      14
      2026
      -
      09
      芯片全制程 表面形貌 (Surface Morpholog...
      半导体芯片制造包含数百道精密工序,晶圆表面形貌(Surface Morphology)与粗糙度的细微偏差,会逐级传导至光刻、刻蚀、薄膜沉积等核心制程,引发图形畸变...
      芯片全制程  表面形貌 (Surface Morphology)粗糙度管控,白光干涉仪筑牢芯片良率 (Chip Yield) 生产根基
      11
      2026
      -
      09
      白光干涉仪精度趋于同质化大视场 表征能力成为关键突破点
      随着光学干涉元器件与算法迭代,市面主流白光干涉仪(White Light Interferometer, WLI)在小视场条件下的垂直测量精度已趋于同质化,均可实...
      白光干涉仪精度趋于同质化大视场 表征能力成为关键突破点
      • 共96页
      • sands金沙集团
      • 上一页
      • 1
      • 2
      • 3
      • 4
      • 5
      • 6
      • 7
      • 8
      • 9
      • 10
      • ...
      • 下一页
      • 尾页

      登录

      隐私声明

      资料下载

      看不清换一张

      隐私声明

      如何称呼您

      手机号码

      隐私声明

      • 关于sands金沙集团
      • 产品服务
      • 测量项目
      • 新闻动态
      • 招贤纳士
      • 联系我们
      • 关于sands金沙集团
        • 公司简介
        • 旗下子公司
        • 开展历程
        • 荣誉资质
      • 产品服务
        • 激光微纳加工装备
        • 激光深加工装备
        • 综合光学3D测量装备
        • 光学非标 定制方案
      • 测量项目
        • 显微光学3D测量
        • 宏观光学3D测量
        • 综合3D振动测试
      • 新闻动态
        • 公司新闻
        • 行业动态
        • 企业党建
      • 招贤纳士
      • 联系我们

      联系方式

      地址:广东省佛山市高明区荷城街道海田路88号23栋

      服务热线:400-8235-668

      E-mail:sales@szht88.com

      企业公众号

      2025sands金沙集团半导体有限公司版权所有

      粤ICP备2023006151号-3

      • 电话400-8235-668
      亲,扫一扫<br/>浏览手机云网站
      亲,扫一扫
      浏览手机云网站